Skip to main content
Article

DIOD REJIMIDA ULANGAN MAYDON TRANZISTORIGA YORUG'LIK TA'SIRINI O'RGANISH

ABI

Abstract

Maqolada diod rejimida ulangan maydon tranzistoriga yorug’lik ta’siri o’rganilgan bo’lib, unga ko‘ra yoritilganlik intensivligining ortirilishi nurlanish yutilishining chuqurligi ortadi, p-n-o‘tishdagi kontakt potensiallar farqi kichrayib (n-qavatda diffuzion potensial to‘liq joylashgan) n-qavat kanali o‘tkazish qismi qalinligining ortishiga olib kelishi aniqlangan.

Not yet translated

Topics

Identifiers

Citations and references

Cited by 00 references