Ultrafast beam-deflection method and its application for measuring the transient refractive index of materials
Hans-Stephan AlbrechtInstitut für Optik and Quantenelektronik, Friedrich-Schiller-Universität Jena, Max-Wien-Platz 1, D-07743, Jena, GermanyP. HeistMax-Planck-Arbeitsgruppe “Röntgenoptik”, Friedrich-Schiller-Universität Jena, Max-Wien-Platz 1, D-07743, Jena, GermanyJ. KleinschmidtD. V. LapInstitut für Optik and Quantenelektronik, Friedrich-Schiller-Universität Jena, Max-Wien-Platz 1, D-07743, Jena, Germany
1993en
ABI
Abstract
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Citations and references
Cited by 30 references