Работы, на которые ссылается эта работа

Работ: 2

Работа: Characteristics of the formation of radiation defects in silicon structures

1. Radiation effects in semiconductor devices

   Ф. П. Коршунов, G. V. Gatalskii, G.M. Ivanov

   Статья1978Цитирований: 6

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.235262

2. Без названия

   ДругоеЦитирований: 1

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.624548