Работы, на которые ссылается эта работа

Работ: 4

Работа: The effect of thermal treatment on the charge-carrier lifetime in nickel-doped silicon

1. Deep impurities in semiconductors

   A. G. Milnes

   Книга1973Цитирований: 12

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.364962

2. Deep impurities in semiconductors

   J. Llacer

   Статья1974Цитирований: 11

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.364964

3. Deep-level transient spectroscopy: A new method to characterize traps in semiconductors

   D. V. Lang

   Статья1974Цитирований: 9

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.424573

4. Electron Spin Resonance in Semiconductors

   Günther Ludwig, H. H. Woodbury

   Глава1962Цитирований: 2

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.498405