Работы, на которые ссылается эта работа

Работ: 3

Работа: Advantages in the Small-Angle Scattering of X-Ray for Studying Optoelectronic Devices within the Frames of ISTC Projects

1. Без названия

   ДругоеЦитирований: 1

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.624051

2. Без названия

   ДругоеЦитирований: 1

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.624052

3. Без названия

   ДругоеЦитирований: 1

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.624053