Работы, на которые ссылается эта работа

Работ: 2

Работа: A compensation method for measuring the junction temperature of a p +-p-n + silicon structure

1. Physics of Semiconductor Devices

   J.-P. Colinge, Cindy Colinge

   Книга2002Цитирований: 58

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.199260

2. Physics of Semiconductor Devices

   Simon M. Sze, Kwok K. Ng

   Книга2006Цитирований: 33

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.109944