Перейти к основному содержанию
AkademIndex

Продукты

Для разработчиков

AkademBaseскороОткрытый API экосистемы
Латиница
← Назад к работе

Работы, на которые ссылается эта работа

Работ: 19

Работа: Study of doping uniformity of a 200 kV ion implanter by RBS and sheet resistance measurements

  1. Simulated annealing analysis of Rutherford backscattering data

    N.P. Barradas, C. Jeynes, R.P. Webb

    Статья1997Цитирований: 5
    ABI

  2. SIMNRA, a simulation program for the analysis of NRA, RBS and ERDA

    M. Mayer

    Статья1999Цитирований: 3
    ABI

  3. Fundamentals of surface and thin film analysis

    L. C. Feldman, James W. Mayer, F. Adams

    Статья1989Цитирований: 2
    ABI

  4. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI

  5. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI

  6. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI

  7. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI

  8. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI

  9. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI

  10. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI

  11. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI

  12. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI

  13. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI

  14. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI

  15. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI

  16. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI

  17. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI

  18. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI

  19. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI