Работы, на которые ссылается эта работа

Работ: 18

Работа: Study of polycrystalline CdTe films by contact and contactless pulsed photo-ionization spectroscopy

1. On the photoionization of deep impurity centers in semiconductors

   G. Lucovsky

   Статья1965Цитирований: 7

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.532661

2. Optical and electrical characterizations of highly efficient CdTe thin film solar cells

   T. Okamoto, Akira Yamada, Makoto Konagai

   Статья2001Цитирований: 4

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.532648

3. Ion beam induced charge imaging of epitaxial GaN detectors

   P.J. Sellin, David Hoxley, A. Lohstroh +5

   Статья2004Цитирований: 3

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.532647

4. Understanding individual defects in CdTe thin-film solar cells via STEM: From atomic structure to electrical activity

   Chen Li, Jonathan D. Poplawsky, Yanfa Yan +1

   Статья2016Цитирований: 3

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.532659

5. Synthesis and optical characterization of nanocrystalline CdTe thin films

   Ahmed A. Al‐Ghamdi, Shamshad A. Khan, A. T. Nagat +1

   Статья2010Цитирований: 2

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.532650

6. Chemical trends of defect formation and doping limit in II-VI semiconductors: The case of CdTe

   Su‐Huai Wei, Shengbai Zhang

   Статья2002Цитирований: 2

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.532651

7. Review of optical applications of CdTe

   R. O. Bell

   Статья1977Цитирований: 2

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.532655

8. On the photoionization of deep impurity centers in semiconductors

   G. Lucovsky

   Статья1993Цитирований: 2

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.532656

9. Review—Carrier Lifetime Spectroscopy for Defect Characterization in Semiconductor Materials and Devices

   E. Gaubas, E. Simoen, Jan Vanhellemont

   Статья2016Цитирований: 2

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.532658

10. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1

    ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.532644

11. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1

    ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.532645

12. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1

    ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.532646

13. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1

    ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.532649

14. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1

    ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.532652

15. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1

    ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.532653

16. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1

    ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.532654

17. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1

    ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.532657

18. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1

    ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.532660