Работы, на которые ссылается эта работа

Работ: 1

Работа: Deep Level Transient Spectroscopy of Silicon, Doped by Zirconium

1. Deep-level transient spectroscopy: A new method to characterize traps in semiconductors

   D. V. Lang

   Статья1974Цитирований: 9

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.424573