Работы, цитирующие эту работу

Работ: 1

Работа: Low Energy Ar<sup>+</sup> Ions Scattering from SiO<sub>2 </sub>(001)<Ι10> Surface under Grazing Incidence

1. Studies of Implantation of O+ Ions into SiO2(001) Films at the Small-Angle Ion Bombardment

   Uchkun Kutliev, Atabek S. Ashirov, Gulmira X. Allayarova +1

   СтатьяIon-surface interactions and analysisEast European Journal of Physics2025Цитирований: 0

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2025.article.009024