← Назад к работе
Работы, на которые ссылается эта работа
Работ: 5
Работа: FTIR-АНАЛИЗ ТОНКИХ ПЛЕНОК КРЕМНИЯ И ОКСИДА КРЕМНИЯ
Infrared spectroscopic analysis of the Si/SiO2 interface structure of thermally oxidized silicon
K. T. Queeney, M. K. Weldon, Jane P. Chang +4
Статья2000Цитирований: 2ABI