Перейти к основному содержанию
AkademIndex

Продукты

Для разработчиков

AkademBaseОткрытый API экосистемы
← Назад к работе

Работы, на которые ссылается эта работа

Работ: 30

Работа: Combinational Circuits Testing Based on Hsiao Codes with Self-Dual Check Functions

  1. Code Design for Dependable Systems

    Eiji Fujiwara

    Книга2005Цитирований: 9
    ABI
  2. Self‐checking Synchronous FSM Network Design with Low Overhead

    A. Matrosova, Ilya Levin, S. Ostanin

    Статья1999Цитирований: 8
    ABI
  3. Error Detecting and Error Correcting Codes

    R. W. Hamming

    Статья1950Цитирований: 7
    ABI
  4. Design of self-testing and on-line fault detection combinational circuits with weakly independent outputs

    E.S. Sogomonyan, M. Goessel

    Статья1993Цитирований: 7
    ABI
  5. Fault Detection Capabilities of Alternating Logic

    Reynolds, Metze

    Статья1978Цитирований: 7
    ABI
  6. New Self‐dual Circuits for Error Detection and Testing

    А. Л. Дмитриев, V. Saposhnikov, V.V. Saposhnikov +3

    Статья1999Цитирований: 7
    ABI
  7. Methods of Providing Hardware Safety for Microprocessor Train Control Systems

    P. F. Bestem’yanov

    Статья2020Цитирований: 6
    ABI
  8. Experimental study on Hamming and Hsiao codes in the context of embedded applications

    Grigor Tshagharyan, G. Harutyunyan, S. Shoukourian +1

    Статья2017Цитирований: 6
    ABI
  9. Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip

    Ubar, Raimund, Raik, Jaan 1972-, Vierhaus, Heinrich Theodor

    Книга2011Цитирований: 4
    ABI
  10. Logic Complement, a New Method of Checking the Combinational Circuits

    M. Gessel', Alexandre V. Morozov, Vladimir Sapozhnikov +1

    Статья2003Цитирований: 4
    ABI
  11. Checking Combinational Circuits by the Method of Logic Complement

    M. Goessel, Alexandre V. Morozov, Vladimir Sapozhnikov +1

    Статья2005Цитирований: 4
    ABI
  12. Experimental Results for Self-Dual Multi-Output Combinational Circuits

    V.V. Saposhnikov, Vl. Moshanin, V.V. Saposhnikov +1

    Статья1999Цитирований: 4
    ABI
  13. A New Design Method for Self-Checking Unidirectional Combinational Circuits

    V.V. Saposhnikov, A. Morosov, V.V. Saposhnikov +1

    Статья1998Цитирований: 4
    ABI
  14. Adaptive BIST for Concurrent On-Line Testing on Combinational Circuits

    Vasileios Chioktour, Athanasios Kakarountas

    Статья2022Цитирований: 4
    ABI
  15. Без названия

    ДругоеЦитирований: 3
    ABI
  16. Self-Dual Digital Devices with Calculations Testing by Modified Hamming Code

    Д.В. Ефанов, Tatiana S. Pogodina

    Статья2023Цитирований: 3
    ABI
  17. Cyber Physical Computing for IoT-driven Services

    Vladimir Hahanov

    Книга2018Цитирований: 2
    ABI
  18. Application of Error Detection and Correction Techniques to Self-Checking VLSI Systems: An Overview

    A R Sahana, V Chiraag, Gautham Suresh +2

    Статья2023Цитирований: 2
    ABI
  19. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI
  20. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI
  21. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI