Перейти к основному содержанию
Akadem
Index
Экосистема
Продукты
AkademIndex
Научный поиск и навигация
AkademScholar
Метрики и научная аналитика
AkademID
скоро
Идентификатор автора и профили
Для разработчиков
AkademBase
Открытый API экосистемы
Найти
О проекте
Охват
Помощь
Русский
Русский
Светлая
Светлая
Русский
Русский
Найти
← Назад к работе
Работы, цитирующие эту работу
Работ: 1
Machine learning-based defect prediction model using multilayer perceptron algorithm for escalating the reliability of the software
Sapna Juneja
,
Ali Nauman
,
Mudita Uppal
+4
Статья
Software Engineering Research
The Journal of Supercomputing
2023
Цитирований: 7
ABI
ABI:AkademIndex/openalex/2023.article.000278