Работы, цитирующие эту работу

Работ: 1

Работа: ABI:AkademIndex/openalex/2026.other.1120681

1. Characterization of deep defects in CdxHg1 xTe by injection-level spectroscopy of carrier lifetime

   V. A. Gnatyuk, Smagul Karazhanov

   Статья2002Цитирований: 0

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2002.article.000408