Ultrafast beam-deflection method and its application for measuring the transient refractive index of materials
Hans-Stephan AlbrechtInstitut für Optik and Quantenelektronik, Friedrich-Schiller-Universität Jena, Max-Wien-Platz 1, D-07743, Jena, GermanyP. HeistMax-Planck-Arbeitsgruppe “Röntgenoptik”, Friedrich-Schiller-Universität Jena, Max-Wien-Platz 1, D-07743, Jena, GermanyJ. KleinschmidtD. V. LapInstitut für Optik and Quantenelektronik, Friedrich-Schiller-Universität Jena, Max-Wien-Platz 1, D-07743, Jena, Germany
1993en
ABI
Аннотация
Аннотация отсутствует.
Идентификаторы
Цитирования и источники
Цитирований: 3Использованных источников: 0