Total yield measurements in 27Al(p, γ)28Si
P. B. LyonsCalifornia Institute of Technology, Pasadena, California, USAJ.W. ToevsCalifornia Institute of Technology, Pasadena, California, USAD.G. SargoodCalifornia Institute of Technology, Pasadena, California, USA
1969en
ABI
Аннотация
Аннотация отсутствует.
Идентификаторы
Цитирования и источники
Цитирований: 2Использованных источников: 0