← Назад к работе
Работы, цитирующие эту работу
Работ: 2
Работа: A spectroscopic ellipsometry study of cerium dioxide thin films grown on sapphire by rf magnetron sputtering
Продукты
Для разработчиков
AkademBaseОткрытый API экосистемыРабот: 2
Работа: A spectroscopic ellipsometry study of cerium dioxide thin films grown on sapphire by rf magnetron sputtering