Influence of ion implantation and electron pre-irradiation on charging of dielectrics under electron beam irradiation: Application to SiO2
Э. И. РауLomonosov Moscow State University, 119991 Moscow, RussiaA. A. TatarintsevLomonosov Moscow State University, 119991 Moscow, RussiaE. Yu. ZykovaLomonosov Moscow State University, 119991 Moscow, Russia
2019en
ABI
Аннотация
Аннотация отсутствует.
Идентификаторы
Цитирования и источники
Цитирований: 2Использованных источников: 0