Работы, цитирующие эту работу

Работ: 2

Работа: Untersuchungen zur Emission positiver Sekundärionen aus festen Targets. Die Brauchbarkeit der Ionenbeschuß-Ionenquelle in der Massenspektroskopie

1. The electron-exchange mechanisms of the secondary ion emission of metals

   V.I. Veksler

   СтатьяIon-surface interactions and analysisVacuum1994Цитирований: 3

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.353997

2. Electron-exchange mechanisms of the secondary ion emission of metals and some incompatible experimental data

   V.I. Veksler

   СтатьяIon-surface interactions and analysisSurface Science1998Цитирований: 1

   ABIABI:AkademIndex/openalex/1998.article.000019