Перейти к основному содержанию
AkademIndex

Продукты

Для разработчиков

AkademBaseОткрытый API экосистемы
← Назад к работе

Работы, цитирующие эту работу

Работ: 2

Работа: Post-Annealing Effects on Fixed Charge and Slow/Fast Interface States of TiN/Al<sub>2</sub>O<sub>3</sub>/p-Si Metal–Oxide–Semiconductor Capacitor