← Назад к работе
Работы, на которые ссылается эта работа
Работ: 9
Работа: On several regularities of deep levels of d-impurities in silicon
Properties of Au, Pt, Pd and Rh levels in silicon measured with a constant capacitance technique
Статья1974Цитирований: 2ABIThe electronic structure of impurities and other point defects in semiconductors
Статья1978Цитирований: 2ABI