← Назад к работе
Работы, цитирующие эту работу
Работ: 2
Работа: Characterization of conducting molecular films on silicon: Auger electron spectroscopy, X-ray photoelectron spectroscopy, atomic force microscopy and surface photovoltage
Продукты
Для разработчиков
AkademBaseОткрытый API экосистемыРабот: 2
Работа: Characterization of conducting molecular films on silicon: Auger electron spectroscopy, X-ray photoelectron spectroscopy, atomic force microscopy and surface photovoltage