Перейти к основному содержанию
AkademIndex

Продукты

Для разработчиков

AkademBaseОткрытый API экосистемы
Статья

The effects of processing conditions on the resistivity and microstructure of ruthenate-based thick film resistors

Frank B. JohnsonAutomotive Components Division, Ford Motor Company, Room C-140, ETC Building, 17000 Rotunda Drive, Dearborn, MI, 48121-6010, USAGary M. CrosbieFord Research Laboratory, Ford Motor Company, MD 3182, SRL Building, 20000 Rotunda Drive, PO Box 2053, Dearborn, MI, 48121-2053, USAW. T. Donlon
1997en
ABI

Аннотация

Аннотация отсутствует.

Идентификаторы

Цитирования и источники

Цитирований: 2Использованных источников: 0