Thickness dependence of superconductivity and resistivity in La1.85Sr0.15CuO4 films
Hisashi SatoNTT Basic Research Laboratories, NTT Corporation, 3-1 Morinosato Wakamiya, Atsugi-shi, Kanagawa 243-0198, Japan
2008en
ABI
Аннотация
Аннотация отсутствует.
Идентификаторы
Цитирования и источники
Цитирований: 2Использованных источников: 0