Method to Measure the Precipitated and Total Oxygen Concentration in Silicon
L. JastrzȩbskiRCA Laboratories, Princeton, New Jersey 08540P. J. ZanzucchiRCA Laboratories, Princeton, New Jersey 08540D. ThébaultRCA Laboratories, Princeton, New Jersey 08540J. ŁagowskiRCA Laboratories, Princeton, New Jersey 08540
1982en
ABI
Аннотация
Аннотация отсутствует.
Идентификаторы
Цитирования и источники
Цитирований: 3Использованных источников: 0