Secondary ion mass spectrometry using cluster primary ion beams
Greg GillenNational Institute of Standards and Technology, Mailstop 837-1, 100 Bureau Drive, Gaithersburg, MD 20899, USAAlbert J. FaheyNational Institute of Standards and Technology, Mailstop 837-1, 100 Bureau Drive, Gaithersburg, MD 20899, USA
2002en
ABI
Аннотация
Аннотация отсутствует.
Идентификаторы
Цитирования и источники
Цитирований: 2Использованных источников: 0