An electron-diffraction study of thin films of the binary mixtures of rare gases

The structures of Ar–Kr, Kr–Xe, and Ar–Xe gas mixtures were studied in the temperature range from 6°K up to the sublimation temperature of the components by transmission electron-diffraction. A phase separation in the Ar–Kr and Kr–Ne systems was not observed, and the concentration dependence of the lattice parameters was found to be in agreement with the results predicted according to Prigogine's “average potential theory” for binary solutions. In the case of Ar–Xe the solubility was observed only in small concentration ranges (0 to 11 and 80 to 100 mol%Xe) while outside this range a phase separation was observed accompanied by the formation of a highly dispersed phase. An effect of the thickness of the deposit on the mutual solubility of the components of the investigated systems was not found in our experiments. Die Strukturen von Ar–Kr-, Kr–Xe- und Ar–Xe-Gasgemischen wurden im Temperaturbereich von 6°K bis zur Sublimationstemperatur der Komponenten mittels Transmissions-Elektronenmikroskopie untersucht. In den Systemen Ar–Kr und Kr–Xe wurde keine Phasentrennung beobachtet; die Konzentrationsabhängigkeit der Gitterparameter stimmt mit den Vorhersagen gemäß der Prigoginschen Theorie des “mittleren Potentials” für binäre Lösungen überein. Für Ar–Xe wurde Löslichkeit nur in schmalen Konzentrationsbereichen (0 bis 11 und 80 bis 100 Mol%Xe) beobachtet, während außerhalb dieses Gebietes Phasentrennung verknüpft mit der Bildung einer hochdispersen Phase auftritt. Ein Einfluß der Dicke der Ablagerung auf die gegenseitige Löslichkeit der Komponenten der untersuchten Systeme wurde in unseren Experimenten nicht gefunden.

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