Работы, цитирующие эту работу

Работ: 1

1. Relationship of electrical resistance of polycrystalline tin films to structural characteristics

   Б. И. Белевцев, Yu. F. Komnik, V. E. Kopina +1

   СтатьяCopper Interconnects and ReliabilitySoviet Journal of Low Temperature Physics1980Цитирований: 1

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.603988