Работы, цитирующие эту работу

Работ: 1

1. Density of Defect States and Spectra of Defect Absorption in a-Si:H

   Р. Г. Икрамов, М. А. Нуриддинова, R. M. Jalalov

   СтатьяThin-Film Transistor TechnologiesUkrainian Journal of Physics2019Цитирований: 0

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2019.article.001197