Перейти к основному содержанию
Akadem
Index
Экосистема
Продукты
AkademIndex
Научный поиск и навигация
AkademScholar
Метрики и научная аналитика
AkademID
скоро
Идентификатор автора и профили
Для разработчиков
AkademBase
Открытый API экосистемы
Найти
О проекте
Охват
Помощь
Русский
Русский
Светлая
Светлая
Русский
Русский
Найти
← Назад к работе
Работы, цитирующие эту работу
Работ: 1
Surface Morphology of Ni/GaAs Thin Films Produced by Ion-Plasma Method
K.T. Dovranov
,
Shakhnoza Jurayeva
,
Muradulla Normuradov
+6
Статья
Surface Roughness and Optical Measurements
2025
Цитирований: 0
ABI
ABI:AkademIndex/openalex/2025.article.010648