Перейти к основному содержанию
Akadem
Index
Экосистема
Продукты
AkademIndex
Научный поиск и навигация
AkademScholar
Метрики и научная аналитика
AkademID
скоро
Идентификатор автора и профили
Для разработчиков
AkademBase
Открытый API экосистемы
Найти
О проекте
Охват
Помощь
Русский
Русский
Светлая
Светлая
Русский
Русский
Найти
← Назад к работе
Работы, цитирующие эту работу
Работ: 1
AIML and Data Analytics for Semiconductor Manufacturing
Preeti Badhani
,
Prof. Prathima Mabel J
,
Meena Rani
+3
Статья
Industrial Vision Systems and Defect Detection
2025
Цитирований: 0
ABI
ABI:AkademIndex/openalex/2025.article.019131