← Ишга қайтиш
Ушбу иш иқтибос қилган ишлар
2 та иш
Иш: Characteristics of the formation of radiation defects in silicon structures
Radiation effects in semiconductor devices
Ф. П. Коршунов, G. V. Gatalskii, G.M. Ivanov
Мақола19786 иқтибосABI