Application of X-ray fluorescence for the analysis of some technological materials
N. M. MukhamedshinaInstitute of Nuclear Physics, Ulugbek, Tashkent 702132, Uzbekistan. [email protected]A. A. MirsagatovaInstitute of Nuclear Physics, Ulugbek, Tashkent 702132, Uzbekistan
ABI
Аннотация
Аннотация мавжуд эмас.
Мавзулар
Идентификаторлар
Иқтибослар ва манбалар
0 та иқтибос3 та фойдаланилган манба