Асосий контентга ўтиш
AkademIndex

Маҳсулотлар

Ишлаб чиқувчилар учун

AkademBaseЭкотизим учун очиқ API
← Ишга қайтиш

Ушбу иш иқтибос қилган ишлар

3 та иш

Иш: Measurement of efficient thickness of transition layer, stimulated by microwave radiation, in contacts Mo-GaAs

  1. Physics of Semiconductor Devices

    Geoffrey Pridham

    Мақола197019 иқтибос
    ABI
  2. The Physics of Semiconductor Devices

    Китоб202414 иқтибос
    ABI
  3. Сарлавҳасиз

    Бошқа1 иқтибос
    ABI