← Ишга қайтиш
Ушбу иш иқтибос қилган ишлар
9 та иш
Иш: CONTOUR-BASED METRIC AND STRUCTURAL DESCRIPTORS FOR ROBUST PLANAR SHAPE RECOGNITION IN BINARY IMAGES
Statistical pattern recognition: a review
Anil K. Jain, Peter Duin, Jianchang Mao
Шарҳ мақола20005 иқтибосABI