Асосий контентга ўтиш
AkademIndex

Маҳсулотлар

Ишлаб чиқувчилар учун

AkademBaseЭкотизим учун очиқ API
← Ишга қайтиш

Ушбу ишга иқтибос қилган ишлар

2 та иш

Иш: Electronic properties of ionizing radiation-induced defects at SiO$_2$/Si interface associated with non-trivial excess current splitting