Асосий контентга ўтиш
AkademIndex

Маҳсулотлар

Ишлаб чиқувчилар учун

AkademBaseЭкотизим учун очиқ API
Мақола

Spectral Ellipsometry Study of Silicon Surfaces Implanted with Oxygen and Helium Ions

В. В. БазаровKazan E. K. Zavoisky Physical-Technical Institute (KPhTI), Kazan Science Center, Russian Academy of Sciences, 107 Sibirskii Trakt, 420029, Kazan, RussiaВ. И. НуждинKazan E. K. Zavoisky Physical-Technical Institute (KPhTI), Kazan Science Center, Russian Academy of Sciences, 107 Sibirskii Trakt, 420029, Kazan, RussiaВ. Ф. ВалеевKazan E. K. Zavoisky Physical-Technical Institute (KPhTI), Kazan Science Center, Russian Academy of Sciences, 107 Sibirskii Trakt, 420029, Kazan, RussiaN. M. LyadovKazan E. K. Zavoisky Physical-Technical Institute (KPhTI), Kazan Science Center, Russian Academy of Sciences, 107 Sibirskii Trakt, 420029, Kazan, Russia
2019en
ABI

Аннотация

Аннотация мавжуд эмас.

Идентификаторлар

Иқтибослар ва манбалар

2 та иқтибос0 та фойдаланилган манба