← Ишга қайтиш
Ушбу иш иқтибос қилган ишлар
4 та иш
Иш: A Study of Defects in Heat Treated Cz-Silicon by Positron Annihilation
Positron Sudies of Thermal-Induced Defects in Silicon
N.Yu. Arutyunov, V.Yu. Traschakov
Мақола19892 иқтибосABI