Асосий контентга ўтиш
AkademIndex

Маҳсулотлар

Ишлаб чиқувчилар учун

AkademBaseЭкотизим учун очиқ API
Мақола

Thermal Conductivity Measurement of Submicron-Thick Films Deposited on Substrates by Modified ac Calorimetry (Laser-Heating Ångstrom Method)

Ryo KatoResearch and Development, Ulvac Sinku-Riko, Inc., 1-9-19 Hakusan, Midoriku, Yokohama, 226, JapanAkikazu MaesonoResearch and Development, Ulvac Sinku-Riko, Inc., 1-9-19 Hakusan, Midoriku, Yokohama, 226, JapanR.P. TyeHunters Lodge, Wells Road, Draycott, Cheddar, Somerset, BS27 3ST, United Kingdom
2001en
ABI

Аннотация

Аннотация мавжуд эмас.

Идентификаторлар

Иқтибослар ва манбалар

2 та иқтибос0 та фойдаланилган манба