← Ишга қайтиш
Ушбу ишга иқтибос қилган ишлар
2 та иш
Иш: Post-Annealing Effects on Fixed Charge and Slow/Fast Interface States of TiN/Al<sub>2</sub>O<sub>3</sub>/p-Si Metal–Oxide–Semiconductor Capacitor
Маҳсулотлар
Ишлаб чиқувчилар учун
AkademBaseЭкотизим учун очиқ API2 та иш
Иш: Post-Annealing Effects on Fixed Charge and Slow/Fast Interface States of TiN/Al<sub>2</sub>O<sub>3</sub>/p-Si Metal–Oxide–Semiconductor Capacitor