Асосий контентга ўтиш
AkademIndex

Маҳсулотлар

Ишлаб чиқувчилар учун

AkademBaseЭкотизим учун очиқ API
← Ишга қайтиш

Ушбу ишга иқтибос қилган ишлар

2 та иш

Иш: Post-Annealing Effects on Fixed Charge and Slow/Fast Interface States of TiN/Al<sub>2</sub>O<sub>3</sub>/p-Si Metal–Oxide–Semiconductor Capacitor