← Ишга қайтиш
Ушбу иш иқтибос қилган ишлар
12 та иш
Иш: The Effect of the Fin Shape and Thickness of the Buried Oxide on the DIBL Effect in an SOI FinFET
Quantum corrections in the simulation of decanano MOSFETs
Asen Asenov, A. R. Brown, J.R. Watling
Мақола20034 иқтибосABI