Ушбу иш иқтибос қилган ишлар

30 та иш

Иш: Contribution to the Physical Modelling of Single Charged Defects Causing the Random Telegraph Noise in Junctionless FinFET

1. Сарлавҳасиз

   Бошқа1 иқтибос

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.573071

2. Сарлавҳасиз

   Бошқа1 иқтибос

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.573072

3. Сарлавҳасиз

   Бошқа1 иқтибос

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.573073

4. Сарлавҳасиз

   Бошқа1 иқтибос

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.573074

5. Сарлавҳасиз

   Бошқа1 иқтибос

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.573075