Mass spectrometric study of the binary approximation in scattering of low energy ions from solid surfaces
Luis L. TongsonPhysics Department, University of Delaware, Newark, Delaware 19711, U.S.AC. Burleigh CooperPhysics Department, University of Delaware, Newark, Delaware 19711, U.S.A
1975en
ABI
Аннотация
Аннотация мавжуд эмас.
Идентификаторлар
Иқтибослар ва манбалар
2 та иқтибос0 та фойдаланилган манба