Properties of Au, Pt, Pd and Rh levels in silicon measured with a constant capacitance technique
1974en
ABI
Аннотация
Аннотация мавжуд эмас.
Идентификаторлар
Иқтибослар ва манбалар
2 та иқтибос0 та фойдаланилган манба
Маҳсулотлар
Ишлаб чиқувчилар учун
AkademBaseЭкотизим учун очиқ APIАннотация мавжуд эмас.