王岩

1 ta ish

1. Ba0.98Bi0.02（Ti0.9Zr0.1）1-xCuxO3陶瓷的介电弛豫特征

   王久石, 丁士华, 宋天秀 +2

   MaqolaSemiconductor materials and interfaces硅酸盐学报20110 iqtibos

   ABIABI:AkademIndex/2011.article.000601