Asosiy kontentga oʻtish
AkademIndex

Xizmatlar

Maqola

SIMS analyses with cluster ions used as bombarding and analyzed particles

У. Х. РасулевС. Н. МорозовInst. Ehlektroniki im. U.A. Arifova Akademii Nauk Respubliki Uzbekistan, Tashkent (Uzbekistan)
Izvestiya Akademii Nauk. Rossijskaya Akademiya Nauk. Seriya Fizicheskayajournal2002en

Ochiq kirish: yoʻq

ABI

Annotatsiya

Annotatsiya mavjud emas.

Mavzular

Ion-surface interactions and analysisLaser-induced spectroscopy and plasmaAnalytical chemistry methods development

Iqtiboslar va manbalar

0 ta iqtibos0 ta foydalanilgan manba