Asosiy kontentga oʻtish
← Ishga qaytish

Ushbu ish iqtibos qilgan ishlar

9 ta ish

Ish: High-resolution X-ray photoelectron spectroscopy and characteristic electron-energy loss spectroscopy of the electronic structure of phosphorus-implanted silicon and quantum dots of silicon dioxide with silicon impurities

  1. Sarlavhasiz

    Boshqa2 iqtibos
    ABI
  2. Sarlavhasiz

    Boshqa2 iqtibos
    ABI
  3. Sarlavhasiz

    Boshqa1 iqtibos
    ABI
  4. Sarlavhasiz

    Boshqa1 iqtibos
    ABI
  5. Sarlavhasiz

    Boshqa1 iqtibos
    ABI
  6. Sarlavhasiz

    Boshqa1 iqtibos
    ABI
  7. Sarlavhasiz

    Boshqa1 iqtibos
    ABI
  8. Sarlavhasiz

    Boshqa1 iqtibos
    ABI
  9. Sarlavhasiz

    Boshqa1 iqtibos
    ABI