ОПТИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ АНТИОТРАЖАЮЩИХ ПОКРЫТИЙ НА ОСНОВЕ Al2O3–SiО2 ДЛЯ КРЕМНИЕВЫХ СОЛНЕЧНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ
С. Х. СулеймановИнститут материаловедения научно-производственного объединения “Физика – Солнце” АН Республики УзбекистанВ. Ф. ГременокНаучно-практический центр НАН Беларуси по материаловедению; Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроникиVitaly V. KhoroshkoБелорусский государственный университет информатики и радиоэлектроникиVitaly A. IvanovНаучно-практический центр НАН Беларуси по материаловедениюВ. Г. ДыскинИнститут материаловедения научно-производственного объединения “Физика – Солнце” АН Республики УзбекистанМ. У. ДжанкличИнститут материаловедения научно-производственного объединения “Физика – Солнце” АН Республики УзбекистанН. А. КулагинаИнститут материаловедения научно-производственного объединения “Физика – Солнце” АН Республики Узбекистан
2020ru
Ochiq kirish: yoʻq
ABI
Annotatsiya
We present the results of the numerical modeling of the Al 2 O 3 -SiO 2 single layer composite antireflection coating for silicon solar cells, its manufacturing and investigation of the reflection integrated coefficient R S £10 %. It is shown that when the concentrations of Al 2 O 3 , SiO 2 are in the ranges 52-84 % and 16-48 % (weight %), respectively, and the thickness of layers is within the 53-97 nm area, the minimum of Rs is achieved for the Al 2 O 3 = 73-77 %, SiO 2 = 27-23 % and 69-75 nm thickness. It is also shown that for layers of Al 2 O 3 : SiO 2 = 75:25 % with a 72 nm thickness the value of R S is 3.53 %, which is approximately twice lower than R S for the Si 3 N 4 coating.
Hali tarjima qilinmagan
Iqtiboslar va manbalar
0 ta iqtibos0 ta foydalanilgan manba