Ushbu ishga iqtibos qilgan ishlar

1 ta ish

Ish: Сравнительное исследование фотоэлементов на основе кремния, легированного никелем различными методами

1. Composition of silicon jointly doped with impurity atoms of gallium and phosphorus

   Н. Ф. Зикриллаев, S. Koveshnikov, X. S. Turekeev +1

   MaqolaOAOchiq kirishSilicon and Solar Cell TechnologiesПоверхность Рентгеновские синхротронные и нейтронные исследования20240 iqtibos

   ABIABI:AkademIndex/2024.article.007427