Asosiy kontentga oʻtish
← Ishga qaytish

Ushbu ish iqtibos qilgan ishlar

29 ta ish

Ish: Comprehensive study of GaAs(O):Cr after gamma irradiation: x-ray analysis, surface morphology, and microhardness properties

  1. Porous layers on compensated GaAs:Cr

    A. S̆imkien≐, J. Sabataityt≐, V. Karpus +4

    Maqola20033 iqtibos
    ABI
  2. Microhardness profile in heteroepitaxial InAs/GaAs structures

    E. P. Trifonova, L. Hitova

    Maqola19932 iqtibos
    ABI
  3. High-purity GaAs and Cr-doped GaAs epitaxial layers by MBE

    H. Morkoç, A. Y. Cho

    Maqola19792 iqtibos
    ABI
  4. Measurement uncertainty of surface roughness measurement

    G Farkas, Ágota Drégelyi-Kiss

    Maqola20182 iqtibos
    ABI
  5. Sarlavhasiz

    Boshqa1 iqtibos
    ABI
  6. Sarlavhasiz

    Boshqa1 iqtibos
    ABI
  7. Sarlavhasiz

    Boshqa1 iqtibos
    ABI
  8. Sarlavhasiz

    Boshqa1 iqtibos
    ABI
  9. Sarlavhasiz

    Boshqa1 iqtibos
    ABI